日本AET公司最新推出了高频（微波）介电常数测试仪新品，专用于测试5G低介电常数和介电损耗的薄膜样品
5G时代的到来催生材料的变革与需求，新技术的出现对材料提出新的性能要求，包括微波介质陶瓷、PCB材料、半导体材料、手机天线材料、手机外壳材料、电磁屏蔽材料、导热散热材料等都将在5G应用中发生改变。
5G要求更高的电磁波传输速度、更小的信号传播损失，这意味着应用材料的介电常数和介电损耗都要尽可能的小，薄膜正是满足这些苛刻要求的材料。
由于薄膜材料厚度达到纳米级，而介电损耗达到10-4以下，因此，目前的介电测试仪器无法满足测试要求。
日本AET公司最新推出了介电常数测试新品，专门测试低介电常数和介电损耗的薄膜样品。
该产品可测试频率较好达到40GHz
介电常数范围在Epsilon：1～5； 准确度：accuracy： /- 1%，
介电损耗范围在Tangent delta： 0.0001～0.01；准确度accuracy： /- 5%。
