简介
TY-ABR-1000 装置，在本公司制造的自动双折射测量装置（TY-ABR-1000 系列）的基础上增设了应力载荷装置，由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是，采用配置的拉伸/压缩试验机，对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。
双折射测量的方式，由于采用光学外差法的普通光路干涉仪，及通过Fourier分析法进行数据处理的方式， 其特点是速度快，精度高，并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman激光器（输出2 mW）作为光源，尽量减少设备构成中的光学部件，实现了长期使用过程中，基本上无需维护的构造。
本设备使用由两个线性偏振光分量（f1，f2）组成的稳频激光器（STZL），两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路，并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号（fb = f1-f2）为几百kHz，可以通过示波器或电相位计读取。
以此方式，样品的光学相位差（δ）被转换为拍频信号的相位差（δ），并且可以容易地被测量。如图所示，通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向（φ）。
相位差：Rｅ
Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d
?λ ：光源波长
?δ ：实测相位差
?ｎＳ,ｎＦ ：主折射率
?ｄ ：样品厚度
主轴方位角：φ
Features
主要运用于：光学玻璃 透明塑胶，航空航天 触摸屏 锂铝硅玻璃 微晶玻璃光弹系数检测。
Specifications
１．４．１ 光弹性常数的测量性能及规格性能
测 量 范 围 ： | ０．１～２００ (×10-12/Pa) 前 后 |
重复精 度 * ： | ２％以下 以 TAC（三乙酰纤维素）薄膜作为被测样品测量时 |
测 量 方 法 ：
| （１） 压缩模式； 对类似于普通玻璃的硬质样品施加压缩载荷进行测量的模式（标准样品形状；φ20，t15mm） （２） 拉伸模式； 对类似于薄膜的软质样品施加拉伸载荷进行测量的模式 （有关例如哑铃形或条形薄膜等其他形状的样品，将另行协商） （利用初始双折射量校准功能，可以使该测量不受样品初始条件的影响） |
载 荷 范 围 ： | ０～５０N （最小每 0.1N 程序） |
规格
转换模式： | 压缩模式及拉伸模式 |
驱动系统 ： | 采用步进马达同时驱动左右螺钉 |
模式切换： | 可通过软件切换（但是，样品卡盘需要手动切换） |
拉伸/压缩速度： | ０．０１～１００mm/min |
拉伸/压缩距离： | １００mm MAX |
称重传感器： | 额定 50N （可更换为 200N,1000N） |
１．４．２ 双折射测量性能及规格性能
测 量 项 目 ： | ○ 双折射相位差：Re | （光学相位差：δ） | ○ 主轴方位角：φ |
测 量 范 围 ： | 0～260nm | （0～150deg.） | 0±90deg. |
解 析 度 ： | 0.01nm | （0.006deg.） | 0.1deg. |
重 复 精 度 ： | ±0.5nm | （±0.3deg.） | ±0.5deg. |
（水晶材质的相位差板（1/4λ）在正常的检验室环境下测量的实际值 为3σ） | |||
测 量 时 间 ： | 3秒以下/测量点（同时测量相位差及方位角） | ||
规格
测 量 原 理 ： | 光学外差测量法（双折射量 Re，主轴方位角 φ） |
光 源 ： | He-Ne 激光（λ=633nm;输出 2mW) [稳频横向 Zeeman 激光器] |
光 束 直 径 ： | φ0.75mm（１／ｅ２） |
