ABR-1000双折射应力仪规格书.pdf

ABR-1000 系列装置能够以 0.01nm  的线性解析度来测量被检样品的双折射系数。双折射作为光学相位 差被检测，可同时测量样品的双折射主轴和延迟轴两个方向，

由于通过双折射测量可以有效地对光学材料的内部应力（失真）及聚合物膜的取向特性进行评估，因此， 双折射测量被广泛应用于材料研究部门以及制造过程中的质量管理。由于配备了标准的用户友好应用程序软    件，因此无需具备专业知识，任何人都可以很容易地进行操作。

l 主要特点

◎      高速测量：                        约 0.1 秒钟／测量点（同时测量相位延迟和方位角）

◎      高线性解析度：                  双折射相位差重复精度：±0.01 nm

主軸方位角重复精度：±0.2 º

◎      高精度，广域动态范围：   激光外差法

◎      测量位置确认：                  可以通过目测来确认测量位置

◎      操作简单：                         由用户友好式的操作画面和显示画面组成

◎      适合质量管理

用途/应用实例 ◎ 液晶

・ 液晶元件：

・ 相位差薄膜：

◎  半导体

・ 透镜、衬底：

◎  光盘

・ CD、DVD  用透明衬底：

・ 光头用部件：

◎  其他

・  大型玻璃块

・ 各种塑料透镜：

・ 各种光纤预制棒：

液晶的取向特性评估